上市的 PCIe 測試工具，與眾不同

泰克 TMT4 容限測試儀是同類產(chǎn)品中專業(yè)級 PCIe 測試工具，可快速輕松地評估 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 設(shè)備的鏈路運(yùn)行狀況。它支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 等最常見的 PCIe 形狀因數(shù)，能夠與當(dāng)今可用的大多數(shù) PCIe 設(shè)備進(jìn)行連接。

借助支持 PCIe 的 16 通道高密度線纜和連接器，該容限測試儀可在數(shù)秒內(nèi)經(jīng)過適配后測試系統(tǒng)板或擴(kuò)展卡。在短短 2 分鐘內(nèi)即可完成 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設(shè)備的發(fā)射器和接收器鏈路運(yùn)行狀況的評估。它確實(shí)獨(dú)樹一幟。

TMT4 容限測試儀重構(gòu)了 PCIe 鏈路運(yùn)行狀況的測試方式。作為被測設(shè)備 (DUT) 的有源鏈路助手，該儀器能夠直接控制 DUT 的預(yù)設(shè)和鏈路訓(xùn)練參數(shù)，從而可逐個(gè)通道或逐個(gè)預(yù)設(shè)深入了解潛在的設(shè)計(jì)缺陷。評估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設(shè)備的鏈路運(yùn)行狀況從未如此簡單。

是時(shí)候深入了解并輕松使用泰克的前沿創(chuàng)新技術(shù)

TMT4 容限測試儀專為現(xiàn)代工程師而設(shè)計(jì)。如今，過長的測試時(shí)間和復(fù)雜的設(shè)備設(shè)置通常會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工程師遇到測試瓶頸。TMT4 在設(shè)計(jì)時(shí)充分考慮了這兩個(gè)挑戰(zhàn)，并對測試時(shí)間和易用性給出了相應(yīng)的解決方案。

TMT4 在短短 5 分鐘內(nèi)即可完成設(shè)置并準(zhǔn)備好測試，而優(yōu)化的用戶界面使測試變得比以往更輕松。借助這些改進(jìn)，泰克在評估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設(shè)備的鏈路運(yùn)行狀況方面充分響應(yīng)了現(xiàn)代工程師的需求。

主要功能

• 支持的 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 速度

• 支持多達(dá) 16 條通道的鏈路帶寬

• 支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 設(shè)備

• 兩種掃描選項(xiàng)：快速掃描和自定義掃描

• 為每個(gè)測試的通道提供 DUT 發(fā)射器 (Tx) 眼圖和鏈路訓(xùn)練參數(shù)

• 為每個(gè)測試的通道提供 DUT 功能接收器 (Rx) 評估

適合多種 PCIe 設(shè)備的適配器和線纜

TMT4 容限測試儀平臺支持 11 種標(biāo)準(zhǔn) PCIe 適配器，可用于測試系統(tǒng)板和擴(kuò)展卡。這使用戶可以測試各種可能的 DUT，并可評估最常見的 PC 組件，如主板、顯卡和 SSD，這是連接和測試 PCIe 設(shè)備的一種簡單方法。

除了 M.2 Edge（具有可適應(yīng)特定損耗條件的集成線纜）之外，所有適配器均可使用標(biāo)準(zhǔn) 16 通道高密度線纜輕松互換。這為用戶提供了在數(shù)秒內(nèi)輕松切換 PCIe 形狀因數(shù)的靈活性，并可最大限度地減少測試之間的停機(jī)時(shí)間。

測試 DUT 發(fā)射器的信號路徑從未如此簡單

DUT 發(fā)射器 (Tx) 測試經(jīng)過優(yōu)化，只需幾分鐘便可讓您深入了解 DUT 發(fā)射器路徑性能。對于當(dāng)今的工程師而言，評估其 DUT 的全鏈路帶寬 Tx 性能通常需要數(shù)天甚至數(shù)周的時(shí)間。借助 TMT4 容限測試儀，可以在短短 2 分鐘內(nèi)完成 Gen 4 設(shè)備的高級鏈路運(yùn)行狀況評估。

此測試讓用戶可以快速查看容限測試儀與 DUT 之間鏈路的眼圖，并顯示用于張開眼圖的相關(guān)鏈路訓(xùn)練參數(shù)。這些信息使團(tuán)隊(duì)能夠?qū)︽溌愤M(jìn)行更頻繁的性能檢查，并快速識別任何通道和預(yù)設(shè)組合的總誤差。

這對于設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工程師尤其有用，因?yàn)樗麄兺ǔ?huì)因傳統(tǒng)示波器和 BERT 測試設(shè)備的測試時(shí)間漫長而遇到瓶頸。例如，如果工程師想要快速查看 BIOS 更改對鏈路運(yùn)行狀況的影響，他們可以掃描 DUT、更新 BIOS、再次掃描 DUT，并在幾分鐘內(nèi)評估這些更改對鏈路性能的影響。

比以往更快的眼圖

作為 DUT Tx 測試的一部分，向用戶顯示每個(gè)通道/預(yù)設(shè)組合的眼圖，這些眼圖表示 DUT 和容限測試儀之間鏈路的無差錯(cuò)區(qū)域。

容限測試儀的主要優(yōu)點(diǎn)是用戶可以極快速度生成這些眼圖。由于是向用戶實(shí)時(shí)顯示眼圖，因此只需幾秒鐘便可顯示結(jié)果。這種極速大大縮短了深入了解 DUT 鏈路運(yùn)行狀況的時(shí)間。隨著工程師面臨的產(chǎn)品快速上市壓力不斷增加，容限測試儀將速度為設(shè)計(jì)和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)提供深入見解。

DUT 接收器 (Rx) 測試功能是對 DUT 接收器路徑進(jìn)行功能評估。該測試旨在確定在操作范圍內(nèi)從容限測試儀發(fā)射的信號在返回錯(cuò)誤之前的衰減程度。這使工程師能夠在短短 30 秒內(nèi)輕松評估功能性 Rx 鏈路的運(yùn)行狀況，與現(xiàn)有設(shè)備相比，節(jié)省了寶貴的時(shí)間和精力。

此快速測試包括容限測試儀和 DUT 之間的鏈路，其中 DUT 選擇用于通信的預(yù)設(shè)。然后，容限測試儀通過在預(yù)期操作范圍內(nèi)按通道/預(yù)設(shè)減少主光標(biāo)值來逐步降低發(fā)射振幅。

使用此方法，用戶可以在不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)獲得對其 Rx 性能的高級評估，并確定是否存在任何值得使用其他設(shè)備進(jìn)一步調(diào)查的通道問題。如果未指示錯(cuò)誤，這將被視為功能合格。如果發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，則會(huì)向用戶顯示發(fā)生錯(cuò)誤的主光標(biāo)值，并將該測試結(jié)果視為功能性故障。

多種掃描選項(xiàng)

TMT4 提供兩種掃描選項(xiàng)：快速掃描和自定義掃描。兩種掃描類型均包括 DUT Tx 和 DUT Rx 測試，可以利用相同的物理設(shè)置運(yùn)行掃描，但允許用戶進(jìn)行不同級別的控制。每種掃描選項(xiàng)都有其自身的優(yōu)勢。

輕松保存和調(diào)用結(jié)果

可將任何掃描的結(jié)果快速輕松地保存至 .zip 文件中。所有表格數(shù)據(jù)（如鏈路訓(xùn)練參數(shù)和原始眼圖測量值）均可保存為 .csv 文件，眼圖圖像保存為 .png 文件。

用戶界面選項(xiàng)范圍

可通過三個(gè)單獨(dú)的用戶界面控制 TMT4 容限測試儀：前面板 UI、Web 瀏覽器 UI 或 REST API。Web 瀏覽器和 REST API 均可讓用戶遠(yuǎn)程控制儀器。

DUT 要求

為了使容限測試儀成功掃描 DUT，DUT 必須支持一組要求。這些要求包括：

• DUT 必須能夠在 Gen 3 (8 GT/s) 和/或 Gen 4 (16 Gt/s) 速度下達(dá)到 L0 狀態(tài)。

• DUT 必須支持 PCIe 協(xié)議并能夠處理 PERST（重置）信號。

• 必須將鏈路訓(xùn)練為至少 x1 帶寬。

• 要測試的選定通道必須在當(dāng)前鏈路帶寬范圍內(nèi)。

• DUT 必須能夠通過協(xié)議強(qiáng)制進(jìn)入不同的 Tx 預(yù)設(shè)。

• DUT 必須能夠自控返回到 L0 狀態(tài)，無需人工干預(yù)。

• 如果需要，擴(kuò)展卡必須支持自身功率超過 75 W。TMT4 為 AIC 提供高達(dá) 75 W 的功率。

• 必須將端點(diǎn) DUT 配置為擴(kuò)展卡，必須將根端口 DUT 配置為系統(tǒng)板。

• DUT 必須從容限測試儀中選擇標(biāo)準(zhǔn) PCIe 預(yù)設(shè) (0-9) 才能執(zhí)行 Rx 測試。